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ME-210-T膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置，這個裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù)，將不能變?yōu)榭赡?，以往的技術(shù)是無法測量0.5mm厚的玻璃基板，在這項技術(shù)下，可進(jìn)行極薄膜的高精度測量，舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估，也可運(yùn)用ME-210-T輕松達(dá)成。 -
膜厚測量儀為一種光學(xué)系膜厚測量裝置，這個裝置的特點(diǎn)是可以高精度測量1nm一下的極薄膜，也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù)，將不能變?yōu)榭赡?，以往的技術(shù)是無法測量0.5mm厚的玻璃基板，在這項技術(shù)下，可進(jìn)行極薄膜的高精度測量，舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估，也可運(yùn)用ME-210-T輕松達(dá)成。
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